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直讀光譜儀的工作流程介紹

發布日期: 2018-01-26
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    激發時產生的弧焰由透鏡直接導入真空光室,實現光路直通,消除了光路損耗,提高檢出限,測定結果準確,重現性及長期穩定性極佳,光學系統自動進行譜線掃描,確保接收的正確性,免除繁瑣的波峰掃描工作。直讀光譜儀自動識別特定譜線,與原存儲線進行對比,確定漂移位置,找出分析線當前的像素位置進行測定;這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的光電倍增管,光信號變成電信號,經儀器的控制測量系統將電信號積分并進行模/數轉換,然后由計算機處理,并打印出各元素的百分含量。 
 
    電極間距較小,固然激發容易,可是隨著放電次數的增加,輔助電極凝聚物質增加,容易造成長尖使得間距變小,這樣也會影響分析精度,特別是向距變化敏感的分析元素分析精度更差。所以直讀光譜儀的電極間距不能過大也不能過小,一般分析間隙采用4-5毫米。一般組織結構的不同不會使工作曲線斜率改變,大體上只有平行移動。控制試樣來校正曲線的上下平移,能減少系統誤差。分析試樣經切割以后、要磨去表面氧化層,用研磨機磨樣時,試樣和標鋼要同時操作,要力求操作一致,用力過大則易使表面氧化。磨紋要求一致,不應有交叉紋。試樣磨后不宜放置過長,否則造成試料表面氧化,影響分析結果。一般可采用中軟,粒度為360的砂輪片磨樣,此外也可用砂紙或砂輪磨樣。
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